4月22日下午，香港科技大学张统一教授应邀为航空航天学院相关专业师生作了题目为“Microbridge Tests （微桥试验）”的学术报告，报告会在学院应用力学研究所会议室举行。
在报告中，张统一教授主要介绍了他的研究成果：其课题组自行开发的利用两端固支的微桥进行薄膜材料参数测量的工作。在微桥模型方面他发展了精确的理论分析方法，并构建了试验荷载-位移曲线与杨氏模量、残余应力和弯曲断裂韧性之间的关系，为薄膜质量的有效评估奠定了理论和实验基础。近年来，张统一教授从工业应用需求出发，挖掘、提炼出重大的科学问题，进一步将微桥试验拓展到纳观尺度，提出了纳桥试验方法，并取得了一系列新的成果。张教授科学的实证研究和精彩的学术报告给在场师生留下了深刻的印象。
张统一教授于1982年和1985年在北京科技大学材料物理专业获硕士和博士学位。毕业后获得德国洪堡基金会奖学金，1986—1988年在德国哥廷根大学任研究员。1988—1990年在美国罗彻斯特大学进行博士后研究。1990—1993年在美国耶鲁大学任副研究员。1993年到香港科技大学任教至今，目前是该校讲座教授。研究领域包括铁电与压电材料的多场断裂力学、微纳观力学和氢渗透与氢致开裂。2007年度国家自然科学二等奖第一获奖人（共四位获奖人）和1987年度自然科学二等奖第三获奖人（共十位获奖人）；发表139篇SCI学术论文；多次收到Web of Science贺卡，祝贺他的“文章引用率在所从事领域位于1％前列，工作在领域里有重大的影响力”。截至2009年3月30日，他的论文SCI他引次数为1776次；其中在香港科技大学完成的4篇学术论文SCI他引次数为234、
